光学显微镜附件有以下几个：BF，明场，适合看平面； DF，暗场，适合看金属 PL，偏振，适合看有机薄膜；DIC，差分，适合看IMC；AS，孔径光阑，可以得到一定的景深，相当于小孔成像，孔径越小，景深越大；FS，视场光阑，可以缩小视场，不大常用；BF/DF/PL/DIC可以让显微镜输出不同的衬度，AS则可以略微改变成像的景深。其中偏振是非常重要的附件，因其有极佳的颜色衬度，特别是对不同种类的有机物可以呈现出不同的颜色，这是明场像，暗场像，甚或是SEM，包括EDX均无法实现的分辨能力。可以这样说，偏振附件对有机污染以及有机异物的观察在某些应用场合是不可替代的。举个例子，在偏振光下，PCB基板表面的绿漆是透明的淡绿色，这意味着不必去掉绿漆，就能看到绿漆下面铜布线的缺陷。暗场虽有类似的效果，但其亮度较低且颜色衬度较差，使其远没有达到偏振的清晰程度。
金相学主要指借助光学(金相)显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支，既包含材料显微组织的成像及其定性、定量表征，亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒(亦包括可能存在的亚晶)、非金属夹杂物乃至某些晶体缺陷(例如位错)的数量、形貌、大小、分布、取向、空间排布状态等。金相显微镜是将光学显微镜技术、光电转换技术、计算机图像处理技术完美地结合在一起而开发研制成的高科技产品，可以在计算机上很方便地观察金相图像，从而对金相图谱进行分析，评级等以及对图片进行输出、打印。众所周知，合金的成分、热处理工艺、冷热加工工艺直接影响金属材料的内部组织、结构的变化，从而使机件的机械性能发生变化。因此用金相显微镜来观察检验分析金属内部的组织结构是工业生产中的一种重要手段。
金相显微镜的光学系统与机械部件，在出厂前已经装配成一部完整的光学仪器。但其中某光学部件(如目镜、物镜、摄影装置等)由于保管上的需要(如为了防琢、防尘、防展等》，平时存放在专门的设备中集中保管，到使用时才把这些光学部件安装在显微镜上。显微镜使用完毕，又孺将这些光学部件从显微镜架身上拆卸下来，放回专门的保管设备中。由此可见，一部金相显微镜在使用过程中，是要经常安装和拆卸某些光学部件的